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簡要描述：KEYSIGHT是德采樣示波器光/ 電時鐘恢復模塊 N1077B，支持 125MBd-64GBd 速率，光 / 電雙輸入，850-1620nm 光波長適配。含兩種時鐘恢復模式，環(huán)路帶寬 20MHz，100fs 低抖動，可選配均衡器與抖動分析，適配主流高速協(xié)議，滿足高速信號測試需求。
產(chǎn)品型號：N1077B廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商更新時間：2025-11-11訪 問 量：20詳細介紹
| 品牌 | KEYSIGHT/美國是德 | 產(chǎn)地類別 | 進口 |
|---|---|---|---|
| 類型 | 數(shù)字示波器 | 應用領域 | 電子/電池 |
| 輸入類型 | 支持光 / 電（單模 / 多模）信號輸入 | 光波長范圍 | 一般支持 850 - 1620nm（單模光纖） |
| 環(huán)路帶寬 | 環(huán)路帶寬可高達 20MHz |
KEYSIGHT是德采樣示波器光/ 電時鐘恢復模塊 N1077B
（一）產(chǎn)品簡介
核心定位：KEYSIGHT N1077B 是專為采樣示波器設計的高性能光 / 電時鐘恢復模塊，聚焦高速串行信號測試領域，為研發(fā)、生產(chǎn)及質(zhì)檢環(huán)節(jié)提供精準的時鐘恢復解決方案，助力用戶高效捕獲與分析高速信號特性。
核心優(yōu)勢：具備寬數(shù)據(jù)速率覆蓋、多輸入類型支持、低抖動輸出及豐富功能擴展特性，可適配多種高速測試場景，兼容主流行業(yè)協(xié)議，滿足不同用戶對高速信號測試的嚴苛要求。
品牌保障：作為是德科技（KEYSIGHT）旗下產(chǎn)品，依托品牌在測試測量領域的技術積累，模塊在穩(wěn)定性、準確性與可靠性上均達到行業(yè)高標準，為用戶測試工作保駕護航。
寬幅速率覆蓋：支持 125MBd 至 64GBd 的連續(xù)數(shù)據(jù)速率，可精準匹配 1.0Gb/s-32Gb/s（NRZ）及 64Gb/s（PAM4）信號測試需求，無論是中低速還是高速信號場景，均能穩(wěn)定發(fā)揮作用，無需頻繁更換設備。
靈活輸入支持：兼容光 / 電雙輸入類型，光輸入適配單模 / 多模光纖，光波長范圍覆蓋 850-1620nm（單模光纖）；電輸入采用差分或單端設計，支持交流耦合與 50Ω 阻抗，可靈活對接不同類型的測試信號源。
高效時鐘恢復：搭載 Golden PLL 和 Data Recovery 兩種核心時鐘恢復模式，能根據(jù)不同信號特性選擇適配模式，確保時鐘恢復的精準度；同時環(huán)路帶寬可高達 20MHz，快速響應信號變化，提升測試效率。
低抖動輸出：輸出時鐘抖動典型值低至 100fs 級別，有效減少時鐘信號干擾，保障高速信號測試過程中數(shù)據(jù)捕獲的準確性，為后續(xù)信號分析提供高質(zhì)量的時鐘基準。
豐富功能擴展：可選配集成可變均衡器（選件 EVA），可對信號衰減進行補償，優(yōu)化信號質(zhì)量；同時具備抖動頻譜分析功能（選件 JSA），助力用戶深入分析信號抖動特性，挖掘信號問題根源。
基礎型號：KEYSIGHT是德采樣示波器光/ 電時鐘恢復模塊（標準版），具備核心的時鐘恢復功能、光 / 電輸入支持及寬速率覆蓋能力，滿足常規(guī)高速信號測試需求。
擴展型號：
KEYSIGHT N1077B（含選件 EVA）：在標準版基礎上增加可變均衡器功能，適用于信號傳輸過程中存在衰減的場景，可通過均衡器補償信號損失，提升測試準確性。
KEYSIGHT N1077B（含選件 JSA）：集成抖動頻譜分析功能，針對需要深入分析信號抖動來源與特性的用戶，可精準捕獲抖動頻譜信息，輔助問題排查與優(yōu)化。
KEYSIGHT N1077B（含選件 EVA+JSA）：同時具備可變均衡器與抖動頻譜分析功能，功能最為全面，適用于對信號質(zhì)量要求高、測試場景復雜的高測試需求。
通信行業(yè)：適用于 100/400 Gigabit Ethernet 等高速以太網(wǎng)設備的研發(fā)與測試，可對設備傳輸?shù)母咚傩盘栠M行時鐘恢復與分析，驗證設備信號傳輸性能，確保設備符合行業(yè)標準。
存儲行業(yè)：支持 SATA、SAS 等存儲接口協(xié)議，可應用于固態(tài)硬盤、存儲陣列等存儲設備的測試，助力研發(fā)人員檢測存儲設備在高速數(shù)據(jù)傳輸過程中的信號穩(wěn)定性，優(yōu)化設備存儲性能。
計算機行業(yè)：兼容 PCIe 4.0/5.0 等高速計算機總線協(xié)議，可用于主板、顯卡、服務器等計算機硬件的測試，幫助工程師排查高速總線傳輸中的信號問題，提升硬件設備的運行穩(wěn)定性與數(shù)據(jù)傳輸效率。
電子研發(fā)領域：在高速芯片、射頻模塊等電子元器件的研發(fā)過程中，可作為關鍵測試輔助設備，對元器件輸出的高速信號進行時鐘恢復與特性分析，為元器件性能優(yōu)化與質(zhì)量管控提供數(shù)據(jù)支撐。
質(zhì)檢與認證領域：第三方檢測機構及企業(yè)質(zhì)檢部門可利用該模塊，對高速電子設備進行合規(guī)性測試與質(zhì)量抽檢，確保產(chǎn)品符合相關技術標準與市場準入要求，提升產(chǎn)品市場競爭力。
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